从当今的地球市场环境来看,省能源铅/无卤素小型轻量低价格高信赖等观点出发的,
新素材新实装方法的研究开发评价方法的重估是必须的。
J-RAS公司把握市场的需要,为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的,
新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列。
简介:离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流
电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的
现象发生(ION MIGRATION),并记录阻抗变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。(ION MIGRATION TESTING)
适用规格:JPCA-ET01-2001
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