普通会员

深圳市世纪天源仪器有限公司

高加速寿命试验箱,高压蒸煮试验箱,离子迁移试验装置,导通电阻可靠性评估装置,事...

产品分类
站内搜索
 
您当前的位置:首页 » 供应产品 » PCB离子迁移测试系统
PCB离子迁移测试系统
点击图片查看原图
产品: 浏览次数:92PCB离子迁移测试系统 
品牌: 日本J-RAS
单价: 1.00元/套
最小起订量: 1 套
供货总量: 1000 套
发货期限: 自买家付款之日起 90 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2017-02-15 10:24
  询价
详细信息
 可对离子迁移绝缘电阻值进行高精度、高信赖性、高效率的评价。

从当今的地球、市场环境来看,省能源、铅/无卤素、小型轻量、低价、高依赖等观点出来的,新素材、新实装方法的研究开发、评价方法的重估是必须的。

简介:离子迁移实验装置是一种依赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS  VOLTAGE),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION  MIGRATION),并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。

深圳市世纪天源仪器有限公司    

涂美兰 13570829212 

电话:0755-23155856    传真:0755-23155853

邮箱:tumeilan@szskyan.com

网址:http://www.szskyan.com

地址:深圳市龙华新区民治街道皇嘉梅陇公馆A1613(梅林关维也纳酒店旁)

询价单